展商精選丨瑟米萊伯，光伏、半導(dǎo)體、平板、LED領(lǐng)域檢測(cè)設(shè)備供應(yīng)商
2023-05-30 11:40:49
公司簡(jiǎn)介
SEMILAB（展位號(hào)：4D36）成立于1989年，是一家全球領(lǐng)先的檢測(cè)設(shè)備供應(yīng)商，擁有先進(jìn)的電學(xué)、光學(xué)測(cè)試技術(shù)，產(chǎn)品被廣泛應(yīng)用于光伏、半導(dǎo)體、平板、LED和科學(xué)研究等領(lǐng)域。公司總部位于匈牙利布達(dá)佩斯，在美國(guó)、中國(guó)設(shè)有研發(fā)與生產(chǎn)中心，在歐洲和亞洲主要國(guó)家和地區(qū)都設(shè)有分支機(jī)構(gòu)。
自2004年以來(lái)，Semilab相繼收購(gòu)了一系列公司和光學(xué)、電學(xué)測(cè)試技術(shù)，到目前為止已經(jīng)擁有超過(guò)150項(xiàng)專(zhuān)利技術(shù)，成長(zhǎng)為泛半導(dǎo)體行業(yè)領(lǐng)先的測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商，給客戶的產(chǎn)品監(jiān)控和質(zhì)量控制提供完整的解決方案。
瑟米萊伯全球分支機(jī)構(gòu)
推薦產(chǎn)品
FPT測(cè)試平臺(tái)
SEMI測(cè)試平臺(tái)
針對(duì)快速發(fā)展的微顯示技術(shù)，Semilab推出了基于半導(dǎo)體工業(yè)的晶圓測(cè)試平臺(tái)，可以應(yīng)用于硅基OLED、Micro LED等顯示技術(shù)，滿足不同尺寸的晶圓及玻璃圓片的在線工藝測(cè)試。
用于研發(fā)、質(zhì)控的測(cè)試設(shè)備
對(duì)于平板顯示客戶的研發(fā)和質(zhì)控部門(mén)，Semilab憑借著業(yè)界領(lǐng)先的光學(xué)、電學(xué)測(cè)試技術(shù)和豐富的應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)，可以提供一系列光學(xué)、電學(xué)測(cè)試設(shè)備和方案，滿足客戶靈活的測(cè)試需求。
·汞探針CV測(cè)試儀：
·光譜型橢偏儀：
- 非破壞性光學(xué)技術(shù)，基于測(cè)量在非垂直入射時(shí)，光在樣品表面反射前后偏振狀態(tài)的變化，來(lái)獲取樣品的厚度、折射率和消光系數(shù)等信息。
- 即使對(duì)于低于5nm的薄膜厚度，也具有高度的靈敏度的技術(shù)。
- 通用的技術(shù)：可測(cè)試多層材料的多種物理參數(shù)（例如厚度，折射率，吸收系數(shù)，孔隙率）。
·拉曼光譜測(cè)試儀：
拉曼光譜是一種能夠?qū)崿F(xiàn)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)和表征的方法。該方法基于拉曼效應(yīng)，該效應(yīng)描述了固體材料晶格振動(dòng)（聲子）所涉及到的彈性散射光。從散射光的能量偏移，強(qiáng)度和偏振狀態(tài)中，可以獲得有關(guān)固體本身性質(zhì)的豐富信息。
·原子力顯微鏡：
- Semilab在掃描探針顯微鏡應(yīng)用領(lǐng)域和制造領(lǐng)域擁有豐富的經(jīng)驗(yàn)，可幫助用戶在最短的時(shí)間內(nèi)獲得最佳和最可靠的結(jié)果。
- Semilab AFM設(shè)備的緊湊設(shè)計(jì)保證了出色的穩(wěn)定性和掃描速率。獨(dú)特的即插即用懸臂更換確保了儀器的快速和安全操作。
- Semilab AFM平臺(tái)允許將Semilab AFM探頭安裝到載物臺(tái)和其他設(shè)施中，如納米壓痕器或光學(xué)顯微鏡。
·納米壓痕測(cè)試儀：
納米壓痕是定量測(cè)試微量材料力學(xué)性能的關(guān)鍵技術(shù)。該技術(shù)是測(cè)量硬質(zhì)薄膜、多相金屬、陶瓷、軟膜、半導(dǎo)體、生物材料和塑料等材料的彈性、塑料和粘彈性性能的成熟方法。
·微波光電導(dǎo)衰退測(cè)試儀：
微波光導(dǎo)衰減（μ-PCD）載流子測(cè)試儀器，用于晶圓制造和太陽(yáng)能電池制造中的進(jìn)料晶圓檢測(cè)，質(zhì)量控制和過(guò)程監(jiān)控。微波誘導(dǎo)光導(dǎo)衰變法是測(cè)量硅中少數(shù)載流子壽命的最常用方法。這種方法因其可靠性，良好的再現(xiàn)性和較短的測(cè)量時(shí)間而脫穎而出，可以進(jìn)行高分辨率的全面掃描。
·渦流法電阻測(cè)試儀：
渦流法電阻測(cè)試儀可對(duì)薄層電阻進(jìn)行快速、無(wú)損測(cè)量，在平板顯示行業(yè)可以用于ITO等導(dǎo)電薄膜進(jìn)行在線電阻監(jiān)控。
